Study of single events triggered by pulsed laser excitation in silicon devices used in radiative environment
Etude de la génération d'événements singuliers par excitation laser impulsionnel dans des composants silicium utilisés en environnement radiatif
Résumé
Electronic components used for space applications may exhibit failures under radiation. To prevent uch effects, the radiation sensitivity is evaluated using particle accelerators. Since those facilities are nly few around the world and expensive, complementary tests are needed to analyse radiation ensitivity. This work contributes to the use of laser pulses to reproduce under given conditions the ffects of heavy ions. Using the laser set-up developed during this thesis, single events which may be estructive were triggered on several types of electronic components. This paves the way to the use of aser as a diagnostic tool, given its advantages in terms of accessibility, costs and detailed analysis
Les composants électroniques utilisés pour des applications spatiales sont soumis à des rayonnements susceptibles de les rendre inopérants. Pour se prémunir de tels effets, leur sensibilité est testée au sol dans des accélérateurs de particules, onéreux et complexes à mettre en œuvre. Ce travail de thèse porte sur l’utilisation d’impulsions laser pour reproduire sous certaines conditions les effets des ions lourds. Le déclenchement de phénomènes parfois destructifs sur plusieurs types de composants de niveaux d’intégration différents a été obtenu sur le banc laser développé pendant cette thèse. Cela ouvre la voix à l’utilisation du laser comme outil de diagnostic en tirant partie de ses avantages en termes d’accessibilité, de coûts et de compréhension fine des effets.
Origine : Version validée par le jury (STAR)
Loading...