Analyse multimodale et multicritères pour l'expertise et la localisation de défauts dans les composants électroniques modernes

Résumé : Ce manuscrit de thèse illustre l’ensemble des travaux de recherche répondant aux problématiques de traitement des données issues des techniques de localisation de défauts. Cette phase de localisation étant une étape déterminante dans le processus d’analyse de défaillances des circuits submicroniques, il est primordial que l’analyste exploite les résultats de l’émission de lumière et du sondage laser. Cependant, ce procédé d’expertise reste séquentiel et dépend uniquement du jugement de l’expert. Cela induit une probabilité de localisation non quantifiée. Afin de pallier ces différents défis, nous avons développé tout au long de cette thèse, une méthodologie d’analyse multimodale et multicritères exploitant le caractère hétérogène et complémentaire des techniques d’émission de lumière et de sondage laser. Ce type d’analyse reposera sur des outils de haut niveau tels que le traitement du signal et la fusion de données, pour au final apporter une aide décisionnelle à l’expert à la fois qualitative et quantitative. Dans un premier temps, nous détaillerons l’ensemble des traitements utilisés en post-acquisition pour l’amélioration des données 1D et 2D. Par la suite, l’analyse spatio-temporelle des données en sondage laser sera explicitée. L’aide décisionnelle fera l’objet de la dernière partie de ce manuscrit, illustrant la méthode de fusion de données utilisée ainsi que des résultats de validation.
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Contributeur : Anthony Boscaro <>
Soumis le : lundi 12 mars 2018 - 14:21:23
Dernière modification le : mercredi 12 septembre 2018 - 01:27:33
Document(s) archivé(s) le : mercredi 13 juin 2018 - 14:10:32

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Anthony Boscaro. Analyse multimodale et multicritères pour l'expertise et la localisation de défauts dans les composants électroniques modernes. Traitement du signal et de l'image. Université de Bourgogne, 2017. Français. 〈tel-01729206〉

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