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Theses

Coherent X-ray diffraction applied to metal physics

Résumé : Les propriétés mécaniques des petits objets diffèrent fortement de celles du matériau massif à partir du moment où leurs dimensions deviennent comparables ou inférieures à celles du libre parcours moyen des dislocations (typiquement quelques microns). Par exemple, leur limite élastique augmente quand leur taille diminue. D'autre part les nanostructures sont exposées à de fortes contraintes, telles que celles imposées par les relations épitaxiales avec le substrat.Il existe donc un besoin clair (supporté par des intérêts industriels) d'une meilleure compréhension des phénomènes physiques qui gouvernent les propriétés des matériaux aux échelles nanométriques.Le laboratoire SIMAP est engagé dans ce domaine de recherche et s'y attelle en combinant croissance d'échantillons, méthodes de caractérisation en laboratoire, méthodes numériques et techniques synchrotron.Une des expériences clés développées par notre équipe est la caractérisation in situ des mécanismes de déformation induits par une pointe d'AFM sur une nanostructure par la diffraction des rayons X cohérents. La diffraction des rayons-X cohérents est une technique émergente de synchrotron; qui permet la mesure détaillée de la structure du cristal, y compris le champ de déformation 3D et les défauts potentiels dans des objets micro ou nano structurés. En principe, une image 3D de la structure de l'échantillon peut-être obtenue à partir des données de diffraction cohérente. En pratique, reconstruire une image de l'échantillon peut s'avérer délicat en présence d'un champ de déformation inhomogène et de nombreux défauts cristallins. Le profil du front d'onde qui est généralement assez éloigné d'une onde plane, peut encore ajouter une complication supplémentaire au problème. Dans ces travaux de thèse, il est démontré qu'une image 3D de l'objet peut être reconstruite dans le cas de systèmes modérément complexes.
Document type :
Theses
Complete list of metadatas

https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01285735
Contributor : Abes Star :  Contact
Submitted on : Wednesday, March 9, 2016 - 4:37:24 PM
Last modification on : Friday, July 17, 2020 - 9:28:08 AM
Document(s) archivé(s) le : Monday, June 13, 2016 - 8:55:33 AM

File

DUPRAZ_2015_archivage.pdf
Version validated by the jury (STAR)

Identifiers

  • HAL Id : tel-01285735, version 1

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Citation

Maxime Dupraz. Coherent X-ray diffraction applied to metal physics. Materials. Université Grenoble Alpes, 2015. English. ⟨NNT : 2015GREAI103⟩. ⟨tel-01285735⟩

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