METHODOLOGIE DE LOCALISATION DES DEFAUTS SOFT DANS LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ET ANALOGIQUES PAR STIMULATION PAR FAISCEAU LASER : ANALYSE DE RESULTATS DES TECHNIQUES DYNAMIQUES PARAMETRIQUES

Abstract : Various electrical parameters are studied when acquired during a laser scan, in order to improve the failure analysis of integrated circuits
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Contributor : Frédéric Darracq <>
Submitted on : Monday, June 2, 2014 - 5:51:22 PM
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Magdalena Sienkiewicz. METHODOLOGIE DE LOCALISATION DES DEFAUTS SOFT DANS LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ET ANALOGIQUES PAR STIMULATION PAR FAISCEAU LASER : ANALYSE DE RESULTATS DES TECHNIQUES DYNAMIQUES PARAMETRIQUES. Electronique. Université Sciences et Technologies - Bordeaux I, 2010. Français. ⟨tel-00998834⟩

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