A. Bielke, K. Beckstette, C. K. Publer, H. Lasser, B. Mullany et al., Fabrication of aspheric optics: process challenges arising from a wide range of customer demands and diversity of machine technologies, Optical Fabrication, Testing, and Metrology, pp.1-12, 2003.
DOI : 10.1117/12.531892

R. S. Retherford, R. Sabia, and P. Vincent, Effect of surface quality on transmission performance for (111) CaF2, Applied Surface Science, vol.183, issue.3-4, pp.264-269, 2001.
DOI : 10.1016/S0169-4332(01)00587-6

J. E. Degroote, S. D. Jacobs, J. M. Schoen, and J. Henry, Romanofsky ans Irina A. Kozhinova, « Magnetorheological finishing of a diamond turned poly(methylmethacrylate) flat », Optifab, Technical Digest of SPIE, vol.02, pp.65-68, 2003.

K. ». Lle, Development of new Magnetorhelogical Fluids for Polishing CaF2, pp.213-219

J. Shen, S. Liu, K. Yi, H. He, J. Shao et al., Subsurface damage in optical substrates, Subsurface Damage in Optical Substrates, pp.288-294, 2005.
DOI : 10.1016/j.ijleo.2005.02.002

W. Oliver and . Fähnle, Hedser van Brug, « Novel approaches to generate aspherical optical surfaces, Processing of SPIE, Conference on Optical Manufacturing and Testing III, pp.170-180, 1999.

J. Wang and R. L. Maier, « Novel Quasi-Brewster angle technique for evaluating the quality of optical, Processing of SPIE, Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII, pp.1286-1294, 2004.

X. D. Liu, L. C. Lee, and X. , Ding and F. Z. Fang, « Ultraprecision Turning of aspherical Profiles with Deep Sag, pp.1152-1157, 2002.

J. Yan, . Jun-'ichi, A. Tamaki, and . Kubo, « Ultra-precision diamond turning of optical crystals for advanced infrared optical components, Technical Digest of SPIE, vol.02, pp.173-175, 2003.

Q. Zhao, S. Dong, Y. Liang, and Y. Zhao, <title>Effects of diamond cutting tool's rake angle and edge radius on the diamond turned surface quality</title>, Optical Manufacturing and Testing IV, pp.200-208, 2001.
DOI : 10.1117/12.453647

J. C. Lambropoulos, S. Arrasmith, S. D. Jacobs, and D. Golini, <title>Manufacturing-induced residual stresses in optical glasses and crystals: Example of residual stress relief by magnetorheological finishing (MRF) in commercial silicon wafers</title>, Optical Manufacturing and Testing IV, pp.181-190, 2001.
DOI : 10.1117/12.453618

E. E. Kordonski and . Cleaveland, « The use of magnetorheological finishing (MRF) to relieve residual stress and subsurface damage on lapped semiconductor silicon wafers », Optical Manufacturing and Testing IV, Proceedings SPIE, vol.4451, pp.286-294, 2001.

A. Duparré, I. Kozhevnikov, S. Gliech, J. Steinert, and G. Notni, « Surface characterization of optical components for the DUV, VUV and EUV » , Microelectronic Engineering, pp.57-58, 2001.

C. Ruppe and A. , Roughness analysis of optical films and substrates by atomic force microscopy, Thin Solid Films, vol.288, issue.1-2, pp.8-13, 1996.
DOI : 10.1016/S0040-6090(96)08807-4

V. Scherer, U. Rabe, R. Fechner, and W. Arnold, « measurement of Microtopography and Subsurface Properties of micromachined Surfaces Employing Atomic Force Microscopy and Near-Fields Acoustic Microscopy », proceedings of the 8th International Precision Engineering Seminar, International Progress in Precision Engineering, pp.165-169, 1995.

Y. Surrel, « Cours de Métrologie optique par décalage de phase : mesures de formes, de champs de déplacements et de déformations, Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint Etienne, 1999.

«. Schreiner and . It, s the subtleties that make the difference », Optical Fabrication, Testing and Metrology, proceedings of SPIE, vol.5252, pp.13-16, 2003.

S. Rimbert, « Utilisation d'un rugosimètre optique et réalisation d'une lentille asphérique, 2001.

N. Broll and «. , Caractérisation de solides cristallisés par diffraction X », Techniques de l'Ingénieur

R. Y. Fillit, F. Duchemin, and J. M. Becker, Erratum Nouvelle m??thode de quantification des orientations cristallines par figures de p??les haute r??solution et ultra-rapides, Journal de Physique VI, Colloque C4, supplément au Journal de Physique III, pp.297-306, 1996.
DOI : 10.1051/jp3:1996217

K. J. Kozaczek and D. S. Kurtz, Quantitative texture analysis of blanket films and interconnects, Electronis Applications, 2000.

R. Guinebretière and «. , Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, Hermes Science, pp.35-37, 2002.

P. Soille and «. , Morphological Image Analysis : Principles and Applications, pp.241-263, 2003.

P. Zitt, Modélisation de textures : techniques du minimax sur l'entropie », mémoire de magistère, pp.4-7, 2003.

W. Robert, A. Cheary, and . Coelho, « A Fundamental Parameters Approach to X-ray Line-Profile Fitting, J. Appl. Cryst, vol.25, pp.109-121, 1992.

W. Robert, A. Cheary, and . Coelho, « Synthesizing and Fitting linear Positionsensitive Detector Step-Scanned Line Profiles, Journal of Applied Crystallography, vol.27, pp.673-681, 1994.

R. Jenkins and J. L. De-vries, « An Introduction to X-ray Powder Diffractometry », Copyright N. V. Philips Gloeilamenfabrieken, pp.14-27

R. W. James, The optical principles of the diffraction of X-rays, Bell and Sons limited, pp.93-134, 1967.

«. International-tables-for and X. Crystallography, Revised and Supplementary Tables to Volumes II and III, pp.71-10147, 1974.

T. Ida and K. Kimura, Flat-specimen effect as a convolution in powder diffractometry with Bragg???Brentano geometry, Journal of Applied Crystallography, vol.32, issue.4, pp.634-640, 1999.
DOI : 10.1107/S0021889899003222

Y. Jeannin and «. , Détermination de structure cristalline par rayons X : méthodes numériques », Techniques de l'ingénieur, traité analyse et caractérisation

Y. Jeannin and «. , Résolution d'une structure cristalline par rayons X », Techniques de l'ingénieur, traité analyse et caractérisation

T. Ida and K. Kimura, Effect of sample transparency in powder diffractometry with Bragg???Brentano geometry as a convolution, Journal of Applied Crystallography, vol.32, issue.5, pp.982-991, 1999.
DOI : 10.1107/S0021889899008894

R. W. Cheary and A. A. Coelho, Axial Divergence in a Conventional X-ray Powder Diffractometer. I. Theoretical Foundations, Journal of Applied Crystallography, vol.31, issue.6, pp.851-861, 1998.
DOI : 10.1107/S0021889898006876

R. W. Cheary and A. A. Coelho, Axial Divergence in a Conventional X-ray Powder Diffractometer. II. Realization and Evaluation in a Fundamental-Parameter Profile Fitting Procedure, Journal of Applied Crystallography, vol.31, issue.6, pp.862-868, 1998.
DOI : 10.1107/S0021889898006888

V. Tableau, estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 1, p.166

V. Tableau, estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 2, p.167

V. Tableau, estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 3, p.168

V. Tableau, estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 4, p.169

V. Tableau, estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 5, p.170

V. Tableau, estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 6, p.171

V. Tableau, 10 : estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 7, p.172

V. Tableau, 11 : estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 8, p.173

V. Tableau, estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 9, p.174

V. Tableau, 13 : estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 10, p.175

V. Tableau, 14 : estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 1, p.180

V. Tableau, estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 2, p.181

V. Tableau, estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 3, p.182

V. Tableau, estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 4, p.183

V. Tableau, estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 5, p.184

V. Tableau, estimation du degré de finition (en Å) en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique de la lentille L 6, p.185

I. Graphique, une demi-méridienne, génératrice d'une surface asphérique, calculée pour les paramètres k=0 (Équation I.1), p.28

I. Graphique, 1 : représentation de la zone des SSD en fonction de la taille des abrasifs, p.49

I. Graphique, 2 : mesure d'état de surface des dioptres microrectifiés (meulage grossier) au moyen du profilomètre mécanique Form Talysurf Serie 2, p.66

I. Graphique, 3 : mesure d'état de surface des dioptres microrectifiés (meulage fin) au moyen du profilomètre mécanique Form Talysurf Serie 2, p.67

I. Graphique and .. De-veeco, 14 : mesure de forme des lentilles en fluorine orientée après polissage sur une machine CN au Wyko RTI 6100, p.91

I. Graphique, mesure de rugosité des lentilles en fluorine orientée après polissage sur une machine CN au Zygo New View 5020, p.91

I. Graphique and .. De-veeco, mesure de forme des lentilles en fluorine orientée après tournage (ébauche) à l'outil diamant au Wyko RTI 6100, p.92

I. Graphique, mesure de forme des lentilles en fluorine orientée après tournage (ébauche) à l'outil diamant au Zygo New View 5020, p.93

I. Graphique and .. De-veeco, 18 : mesure de forme des lentilles en fluorine orientée après tournage (finition) à l'outil diamant au Wyko RTI 6100, p.94

I. Graphique, mesure de forme des lentilles en fluorine orientée après tournage (finition) à l'outil diamant au Zygo New View 5020, p.94

I. Graphique, comparaison des profils d'émission pour la raie du cuivre avant (à gauche) et après (à droite) l'utilisation d'un filtre nickel. Les lignes en pointillés représentent le coefficient d'absorption massique du nickel, p.133

I. Graphique, 3 : profil initial (en rouge) calculé comme somme pondérée par les intensités des L 7 pour une orientation particulière, p.136

I. Graphique, 9 : profil localisé autour de l'angle de Bragg 28 111 de la fonction instrumentale caractéristique du facteur de polarisation de Lorentz pour une orientation particulière, p.146

V. Graphique, 1 : profil théorique d'un pôle représentatif (en rouge) et les données discrètes issues du traitement des figures de pôles (en bleu), p.159

V. Graphique, évolution du degré de finition en fonction des divers usinages et des diverses orientations cristallographiques sur la lentille L 6, p.162

V. Graphique, principe de la méthode des moindres carrés sur les données expérimentales (en bleu) par rapport au modèle théorique (en rouge), p.163

V. Graphique, lentille L 1 en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique, p.166

V. Graphique, 14 : évolution du degré de finition de la lentille L 10 en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique, p.175

V. Graphique, exemple de représentation de la différence entre l'aire de la courbe théorique et l'aire obtenue à partir des données expérimentales, p.177

V. Graphique, 17 : calcul du zéro de la fonction par la méthode de la sécante, p.179

V. Graphique, lentille L 1 en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique, p.180

V. Graphique, lentille L 10 en fonction des usinages et de l'orientation cristallographique, p.189

V. Graphique, finition moyen par la méthode des points (en rouge) et la méthode des aires (en bleu) pour les différents essais

V. Graphique, interpolation (en rouge) des données expérimentales (en bleu) et estimation de la différence entre les deux courbes (en vert)

V. Graphique, par les deux méthodes de calcul de T (en rouge) et la droite représentative (en bleu) de l'ensemble du nuage de points

V. Graphique, par les deux méthodes de calcul de T (en rouge) et la droite représentative (en bleu) d'une partie du nuage de points (T 3 600Å)

V. Graphique, comparaison entre les résultats obtenus par les différentes méthodes de calcul pour des valeurs de T faibles (en rouge) et la droite représentative (en bleu) d'une partie du nuage de points (T 3 600 Å)

V. Graphique, T (en rouge) et la droite représentative (en bleu) d'une partie du nuage de points (T 3 600 Å)

A. Graphique, à gauche) et du Ge (à droite) pour des échantillons de 10 mm d'épaisseur, p.223

A. Graphique, 3: courbes de transmission du Al 2 O 3 ( à gauche pour un échantillon de 1 mm d'épaisseur) et du ZnSe (à droite pour un échantillon de 10 mm d'épaisseur), p.223

A. Graphique, 2 : profil de la surface asphérique avec le nouveau rayon programmé, p.275

A. Graphique, 3 : profil asphérique après compensation des effets de l'usinage. La courbe rouge représente le profil des défauts générés par le programme, p.276

A. Graphique, 1: diamètres et rayons de courbure maximaux mesurables sur l'interféromètre Wyko RTI 6100 pour un dioptre convexe avec les objectifs f/ 3, p.304

A. Graphique, 1 : représentation des facteurs de diffusion atomique de l'ion F -(courbe en rouge) et de l'ion Ca 2+ (courbe en bleu), p.332

A. Graphique, comparaison avec la courbe simulée (en rouge) et les données issues des tables III (en bleu) de l'ion fluor, p.339

A. Graphique, comparaison avec la courbe simulée (en rouge) et les données issues des tables de Cullity (en bleu) de l'ion fluor, p.340

A. Graphique, comparaison avec la courbe simulée (en rouge) et les données issues des tables IV (en bleu) de l'ion fluor, p.340

A. Graphique, comparaison avec la courbe simulée (en rouge) et les données issues des tables III (en bleu) de l'ion calcium, p.343

A. Graphique, comparaison avec la courbe simulée (en rouge) et les données issues des tables de Cullity (en bleu) de l'ion calcium, p.343

A. Graphique, comparaison avec la courbe simulée (en rouge) et les données issues des tables IV (en bleu) de l'ion calcium, p.344

A. .. Graphique, 6 : équation d'une gaussienne (en rouge), d'une lorentzienne (en bleu) et de la fonction de Voigt correspondante (en vert) pour, p.404

A. =. Graphique and .. , d'une lorentzienne (en bleu) et de la pseudo-fonction de Voigt correspondante (en vert) pour =0, 834 et c 1 =c 2 =c 5 =c 6 =1 et c 3 =c 4 =c 7 =c 8, p.406