Skip to Main content Skip to Navigation
Theses

Technique d'auto test pour les imageurs CMOS

Résumé : Le test en production des imageurs CMOS est réalisé avec des testeurs qui utilisent des sources de lumière précises, aussi bien au niveau du test de plaquettes qu'au niveau du test de boîtiers. Ce besoin rends le test de ces produits plus compliqué et coûteux . En outre, ces types de tests ne peuvent pas être réalisés directement sur l'imageur afin d'incorporer des fonctions d'auto test. Celles-ci sont intéressantes pour la réduction des coûts du test de production et pour le diagnostic de l'imageur. Le diagnostic est très important lors de la production des imageurs et aussi lors de leur utilisation dans certaines applications, en particulier quand ils sont soumis à des sources de stress importantes. En général, les utilisateurs des imageurs possèdent rarement l'équipement nécessaire pour vérifier leur fonctionnalité. Dans cette thèse, nous étudions et évaluons une technique d'auto test (BIST) pour les capteurs de vision CMOS. Cette technique réalise un test structurel de l'imageur. Le test structurel est basé sur des stimuli électriques appliqués dans l'anode de la photodiode et dans les transistors du pixel. La qualité de l'auto test est évaluée en fonction de métriques de test qui tiennent en compte des déviations du process et la présence de fautes catastrophiques et paramétriques. La technique d'auto test est validée pour deux imageurs, l'un utilisant des pixels à intégration et l'autre des pixels logarithmiques. Une validation expérimentale est réalisé pour le cas de l'imageur logarithmique.
Complete list of metadatas

Cited literature [58 references]  Display  Hide  Download

https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00367236
Contributor : Lucie Torella <>
Submitted on : Tuesday, March 10, 2009 - 4:13:26 PM
Last modification on : Wednesday, July 22, 2020 - 3:01:22 AM
Document(s) archivé(s) le : Tuesday, June 8, 2010 - 9:28:26 PM

Identifiers

  • HAL Id : tel-00367236, version 1

Collections

CNRS | TIMA | UGA

Citation

L. Lizarraga. Technique d'auto test pour les imageurs CMOS. Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 2008. Français. ⟨tel-00367236⟩

Share

Metrics

Record views

275

Files downloads

1035