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Theses

Traitement d'images en analyse de défaillances de circuits intégrés par faisceau d'électrons

Résumé : Cette thèse présente l'étude et la réalisation d'un système automatique et intégré d'analyse de défaillances de circuits VLSI par faisceau d'électrons. Le principe d'analyse consiste a comparer les images représentant en contraste de potentiel le fonctionnement interne du circuit défaillant a celles d'un circuit de référence. L'application de cette technique de test a des circuits dont la structure détaillée est inconnue, a nécessité le développement d'un outil automatique permettant d'extraire les différences de contraste sur la totalité du circuit. L'automatisation s'est heurtée aux problèmes d'alignement entre les images a comparer. Une technique de reconnaissance des formes, basée sur la détection des coins, a été mise en œuvre pour s'affranchir de ces problèmes. Ces travaux ont été valides par une étude expérimentale menée sur des microprocesseurs 68000
Document type :
Theses
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00339510
Contributor : Thèses Imag <>
Submitted on : Tuesday, November 18, 2008 - 9:46:53 AM
Last modification on : Friday, November 6, 2020 - 4:04:44 AM
Long-term archiving on: : Monday, June 7, 2010 - 9:38:46 PM

Identifiers

  • HAL Id : tel-00339510, version 1

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Citation

Dider Conard. Traitement d'images en analyse de défaillances de circuits intégrés par faisceau d'électrons. Modélisation et simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1991. Français. ⟨tel-00339510⟩

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