Test aux ions lourds de VLSI programmables

Résumé : L'environnement radiatif spatial provoque des anomalies dans les systèmes informatiques embarques. Il est donc primordial de définir des stratégies de qualification permettant le choix du circuit le moins vulnérable. Le phénomène dit d'Upset est l'un des effets du rayonnement le plus critique pour les circuits intégrés. Les différentes stratégies de test d'Upset sont passées en revue, dans le cas des circuits intégrés programmables. Un équipement expérimental de test a été développé et une methode de test a été appliquée a des circuits candidats a des applications spatiales. Les tests aux ions lourds ont été réalisés a l'aide de différents simulateurs d'ions lourds (source de californium, cyclotron, synchrotron), validant ainsi le matériel et l'approche développes et donnant des indications sur l'efficacité de ces simulations
Document type :
Theses
Modeling and Simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1989. French


https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00334460
Contributor : Thèses Imag <>
Submitted on : Monday, October 27, 2008 - 8:10:05 AM
Last modification on : Monday, October 27, 2008 - 10:13:08 AM

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  • HAL Id : tel-00334460, version 1

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A. Provost-Grellier. Test aux ions lourds de VLSI programmables. Modeling and Simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1989. French. <tel-00334460>

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