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Test intégré de processeur facilement testable

Résumé : Un test permet d'assurer la sécurité de fonctionnement des circuits VLSI. La première partie montre l'intérêt dans un tel contexte d'un processeur facilement testable; la deuxième partie développe pour de tels microprocesseurs une stratégie de test. Dans la troisième partie est traité le problème de la définition des vecteurs de test des circuits logiques programmables. Développement d'un test pour multiplieur itératif
Document type :
Theses
Complete list of metadatas

https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00319265
Contributor : Thèses Imag <>
Submitted on : Monday, September 8, 2008 - 7:30:17 AM
Last modification on : Friday, November 6, 2020 - 4:15:51 AM
Long-term archiving on: : Friday, June 4, 2010 - 11:02:06 AM

Identifiers

  • HAL Id : tel-00319265, version 1

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Philippe de Choudens. Test intégré de processeur facilement testable. Modélisation et simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1985. Français. ⟨tel-00319265⟩

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