Test fonctionnel des circuits intégrés digitaux

Résumé : L'objet de cette thèse est l'étude de deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test pour les circuits intégrés digitaux. Après un rappel des problèmes actuels posés par le test des circuits VLSI (partie I), deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test adressant deux types différents d'hypothèses de pannes sont présentées: une méthode heuristique de génération de vecteurs (partie II) et une méthode de test pseudo-exhaustif (partie III)
Document type :
Theses
Modélisation et simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1985. Français


https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00316164
Contributor : Thèses Imag <>
Submitted on : Wednesday, September 3, 2008 - 7:04:36 AM
Last modification on : Wednesday, September 3, 2008 - 8:55:36 AM
Document(s) archivé(s) le : Thursday, June 3, 2010 - 7:25:06 PM

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  • HAL Id : tel-00316164, version 1

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Citation

Eric Archambeau. Test fonctionnel des circuits intégrés digitaux. Modélisation et simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1985. Français. <tel-00316164>

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