Functional test of digital integrated circuits

Test fonctionnel des circuits intégrés digitaux

Eric Archambeau (1)

1 IMAG - Institut d'Informatique et de Mathématiques Appliquées de Grenoble

L'objet de cette thèse est l'étude de deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test pour les circuits intégrés digitaux. Après un rappel des problèmes actuels posés par le test des circuits VLSI (partie I), deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test adressant deux types différents d'hypothèses de pannes sont présentées: une méthode heuristique de génération de vecteurs (partie II) et une méthode de test pseudo-exhaustif (partie III)

Mots clés: Circuit intégré; Circuit VLSI; Analyse fonctionnement; Contrôle automatique; Essai; Programme ordinateur; Programme P.E.T.; Détection panne; Coût; Circuit numérique; Thèse; Programme REPTIL; Programme P.E.T

Mots clés: Integrated circuit; VLSI circuit; Operation study; Automatic monitoring; Test; Computer program; Failure detection; Costs; Digital circuit

Domaines: Modélisation et simulation

Eric Archambeau. Test fonctionnel des circuits intégrés digitaux. Modélisation et simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1985. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-00316164⟩