Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques

Sylvain Sadier (1)

1 IMAG - Institut d'Informatique et de Mathématiques Appliquées de Grenoble

Après avoir situé le problème du test des circuits intégrés, une méthode de test phasée sur une description fonctionnelle du circuit est décrite. le système de test développé en collaboration avec ESD est présente ainsi qu'un outil de description de signaux.

Mots clés: test; méthode de test; outil de test; microprocesseurs; circuits périphériques; automates; niveau de description; graphe

Domaines: Modélisation et simulation

Sylvain Sadier. Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques. Modélisation et simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1983. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-00307439⟩