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Contribution à l'étude du test aléatoire des circuits séquentiels et des mémoires. Application à des composants intégrés

Résumé : Méthodes actuelles des tests non déterministes de systèmes logiques. Méthode d'analyse du test aléatoire de circuits séquentiels. Etude du test aléatoire de circuits séquentiels intégrés (ssi, msi). Exemples d'influence des probabilités des entrées sur la largeur de la séquence de test.
Document type :
Theses
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00288718
Contributor : Thèses Imag <>
Submitted on : Wednesday, June 18, 2008 - 11:33:53 AM
Last modification on : Friday, November 6, 2020 - 4:10:13 AM
Long-term archiving on: : Friday, May 28, 2010 - 8:18:50 PM

Identifiers

  • HAL Id : tel-00288718, version 1

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Citation

Pascale Thevenod Fosse. Contribution à l'étude du test aléatoire des circuits séquentiels et des mémoires. Application à des composants intégrés. Modélisation et simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1978. Français. ⟨tel-00288718⟩

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