Failure diagnosis in the logic circuits : Development of a method targeting an enlarged set of fault models

Diagnostic de pannes dans les circuits logiques : Développement d'une méthode ciblant un ensemble élargi de modèles de fautes

Alexandre Rousset (1)

1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

With the evolution of the complexity and performances of digital circuits, the occurrence of failures which can not be modeled by simple stuck-at faults becomes important and even preponderant. These effects are generally not taken into account by classical diagnosis methods. The purpose of this thesis is to develop a diagnosis method targeting an enlarged set of fault models.
In this manuscript, the developed diagnosis method is presented in a progressive way. First, the considered fault models are analyzed in order to show the sensitization conditions. The second part is dedicated to the whole presentation of the proposed diagnosis method. This method mainly uses an "effect-cause" approach based on critical path tracing. The third part presents the improvements of this method to take into account failures which have specific effects. The last part is dedicated to the validation of the diagnosis method throughout many experimentations on benchmark circuits.

Avec l'évolution de la complexité et des performances des circuits intégrés, l'occurrence de défaillances non modélisables par de simples collages devient importante et même prépondérante. Ces effets ne sont généralement pas pris en compte par les méthodes classiques de diagnostic. Cette thèse a pour objectif le développement d'une méthode de diagnostic ciblant un ensemble élargi de modèles de fautes.
La méthode de diagnostic développée est présentée dans ce manuscrit de manière progressive. Dans un premier temps, les modèles de fautes considérés sont analysés afin de dégager les conditions de sensibilisation. La deuxième partie est consacrée à la présentation globale de la méthode de diagnostic développée. Cette méthode utilise principalement une approche " Effet à Cause " basée sur le traçage de chemins critiques. La troisième partie présente l'amélioration de cette méthode pour la prise en compte de pannes à effets spécifiques. La dernière partie est consacrée à la validation de chaque étape de l'évolution de la méthode de diagnostic au travers de diverses expérimentations.

Mots clés: Diagnosis of digital circuits; effect-cause analysis; critical path tracing; various fault models

Mots clés: Diagnostic de circuits digitaux; analyse d'effet à cause; traçage de chemins critiques; modèles de défaillance divers

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Alexandre Rousset. Diagnostic de pannes dans les circuits logiques : Développement d'une méthode ciblant un ensemble élargi de modèles de fautes. Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc, 2008. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-00282204⟩