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Caractérisation par spectroscopie photoélectronique a rayonnement x (xps) de matériaux amorphes massifs et sous forme de couches minces, utilisables dans les microgénérateurs électrochimiques

Résumé : De nouveaux matériaux d'électrode positive, des couches minces TiOySz et MoOySz, ont été analysés par xps. Les caractéristiques intrinsèques de ces matériaux ont été déterminées et les processus rédox mis en jeu lors du cyclage de générateurs expérimentaux ont été précisés. Parallèlement, des études ont été effectuées en XPS sur des matériaux d'électrolyte ((1-x) B2S3-xLi2S et (1-x) As2S3-xLi2S) sur leurs domaines vitreux respectifs ; en utilisant comme sonde principale le pic de coeur S2p, l'influence du modificateur sur le formateur de réseau a été analysée.
Document type :
Theses
Complete list of metadatas

https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00150020
Contributor : Stéphane Toulin <>
Submitted on : Tuesday, May 29, 2007 - 11:52:41 AM
Last modification on : Thursday, January 11, 2018 - 6:15:07 AM
Long-term archiving on: : Thursday, April 8, 2010 - 6:10:02 PM

Identifiers

  • HAL Id : tel-00150020, version 1

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Citation

Laurent Benoist. Caractérisation par spectroscopie photoélectronique a rayonnement x (xps) de matériaux amorphes massifs et sous forme de couches minces, utilisables dans les microgénérateurs électrochimiques. Matériaux. Université Sciences et Technologies - Bordeaux I, 1996. Français. ⟨tel-00150020⟩

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