Abstract : The large temperature coefficient of resistance in manganite thin films around room temperature makes this material very promising for uncooled microbolometer applications. The measurement of the low frequency noise is needed before practical applications. My thesis was particularly devoted to the study of the temperature coefficient of resistance and the 1/f noise in La0,7Sr0,3MnO3 (LSMO) thin films. LSMO thin films on two different substrates (SrTiO3 et (LaAlO3)0,3(Sr2AlTaO6)0,7) have been grown by pulsed laser deposition. The samples with different geometries were prepared by photolithography and ion etching. The samples connected by four probes were measured using a low noise amplifier showing a Johnson noise level 1,3 nV∙Hz-1/2 and cut-off frequency at 10 Hz. Study by X-Ray diffraction, and the measurements of magnetization, of magnetoresistance and of R(T) which indicate the general quality of the films have been carried out. We mainly attempted to verify the semi-empiric Hooge relation (as a function of the frequency, of the bias current and of the different geometries). The noise measurements in the temperature range from 300 to 400 K have revealed a noise behavior at phase transition without any excess noise. Hooge parameters of about 1 – 3 have been measured, which is among the best reported values in literature. We have finally made an estimation from the results of noise measurements and R(T) measurements.
Résumé : Les films minces de manganites ont un fort de coefficient de température à température ambiante et sont donc potentiellement intéressants pour la réalisation de microbolomètres non refroidis. Cependant, l'étude approfondie du bruit à basse fréquence dans ces matériaux est nécessaire avant d'envisager de réelles applications. Ce travail de thèse a été consacré à l'étude du coefficient de température et du bruit en 1/f dans des couches minces de La0,7Sr0,3MnO3 (LSMO). Les couches de LSMO étudiées ont été déposées sur deux substrats différents (SrTiO3 et (LaAlO3)0,3(Sr2AlTaO6)0,7) par ablation laser pulsé. La mise en forme des motifs avec différentes géométries a été effectuée par photolithographie et gravure ionique. Les échantillons connectés en quatre points sont mesurés à l'aide d'un amplificateur ayant un très faible niveau de bruit blanc (1,3 nV.Hz-1/2) et une très basse fréquence de recouvrement (10 Hz). Les mesures de diffraction de rayons X, d'aimantation, de magnétorésistance et de R(T) ont permis de connaître les propriétés générales des films. Nous avons cherché à vérifier la relation de Hooge (en fonction de la fréquence, du courant de polarisation et de la géométrie des motifs). Les mesures de bruit dans la gamme de température de 300 à 400 K indique l'absence l'excès de bruit au passage de la transition de phase. Des valeurs de paramètre de Hooge de l'ordre de 1 à 3 ont été mesurées, ce qui place ces résultats parmi les meilleurs publiés. Nous avons enfin estimé les performances d'un microbolomètre à partir de mesure de R(T) et de bruit.
