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Habilitation à diriger des recherches

Test et LSI

Résumé : La motivation de ce travail est la détection des pannes matérielles pouvant se produire à l'intérieur d'une unité centrale (UC) intégrée (microprocesseur). Certaines des différentes étapes de la méthodologie dépassant ce cadre (pouvant être utilisées avec profit pour d'autres problèmes de test que celui du test d'une UC) mais étant tournées vers des problèmes de tests, le caractère intégré étant une constante des circuits étudiés, le titre de ce document situe ledit travail dans un cadre plus vaste, brièvement résumé par : Test et LSI
Document type :
Habilitation à diriger des recherches
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00010674
Contributor : Thèses Imag <>
Submitted on : Tuesday, October 18, 2005 - 3:51:09 PM
Last modification on : Friday, December 11, 2020 - 8:28:04 AM
Long-term archiving on: : Friday, April 2, 2010 - 10:31:42 PM

Identifiers

  • HAL Id : tel-00010674, version 1

Collections

TIMA | CNRS | UGA

Citation

Beranrd Courtois. Test et LSI. Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1981. ⟨tel-00010674⟩

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