Skip to Main content Skip to Navigation
Theses

Injection et détection de charges dans des nanostructures semiconductrices par Microscopie à Force Atomique

Raphaelle Dianoux 1
1 NPSC - Nanophysique et Semiconducteurs
PHELIQS - PHotonique, ELectronique et Ingénierie QuantiqueS : DRF/IRIG/PHELIQS
Résumé : Les nanostructures semiconductrices isolées possèdent la propriété de confiner les charges sur des temps longs. La rétention de charges dépend de plusieurs paramètres tels que la taille de la nanostructure, la densité et la qualité de l'interface avec le diélectrique. Nous avons exploré ces propriétés à l'aide d'un AFM à l'air par microscopie à force électrostatique (EFM). L'EFM permet d'injecter des charges localement puis de sonder avec une sensibilité de quelques dizaine d'électrons seulement les comportements individuel aussi bien que collectif des nanostructures. Nous avons caractérisé l'interaction pointe-surface non-linéaire pour un couplage électrostatique, puis avons étudié le comportement de nanostructures de Si ou Ge déposées sur du SiO2. Nous avons mis en évidence d'une part la saturation du nuage de charge dans un nappe de nanocristaux, et d'autre part la propagation inhomogène de la charge à l'échelle de l'heure dans une nappe de nanocristaux plus dense.
Complete list of metadatas

https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00008831
Contributor : Raphaelle Dianoux <>
Submitted on : Monday, March 21, 2005 - 11:37:44 AM
Last modification on : Thursday, March 26, 2020 - 6:57:04 PM
Document(s) archivé(s) le : Friday, September 14, 2012 - 12:10:24 PM

Identifiers

  • HAL Id : tel-00008831, version 1

Collections

Citation

Raphaelle Dianoux. Injection et détection de charges dans des nanostructures semiconductrices par Microscopie à Force Atomique. Matière Condensée [cond-mat]. Université Joseph-Fourier - Grenoble I, 2004. Français. ⟨tel-00008831⟩

Share

Metrics

Record views

438

Files downloads

1189