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fulltext access CARACTÉRISATION PAR HOLOGRAPHIE ÉLECTRONIQUE ET SIMULATION DU DOPAGE 2D SUR SUBSTRAT SOI ULTRA-MINCE
Cyril A. Pierre Laurent
Université de Grenoble (04/11/2010), François Bertin (Dir.) [tel-00587918 - version 1]
fulltext access Conception, Fabrication, Caractérisation de microactionneurs à base de nanotubes de carbone
Raslan Z.
Université Joseph-Fourier - Grenoble I (17/12/2009), Basrour S. (Dir.) [tel-00482397 - version 1]
fulltext access Vérification semi-formelle et synthèse automatique de PSL vers VHDL
Oddos Y.
Université Joseph-Fourier - Grenoble I (27/11/2009), Borrione D. (Dir.) [tel-00481923 - version 1]
fulltext access Analyse des différentes stratégies de procédés de gravure de grille métal - high k pour les noeuds technologiques 45 nm et 32 nm
Luere O.
Université Joseph-Fourier - Grenoble I (23/11/2009), Olivier Joubert (Dir.) [tel-00555387 - version 1]
fulltext access Miniaturisation des lignes de propagation microondes en technologies circuit imprimé et CMOS - Application à la synthèse de filtres.
Issa H.
UJF (13/11/2009), P. Ferrari (Dir.) [tel-00463370 - version 1]
fulltext access Etude de la fiabilité de composants BAW pour des applications RF
Ben Hassine N.
Université Joseph-Fourier - Grenoble I (29/10/2009), Basrour S. (Dir.) [tel-00481883 - version 1]
fulltext access Etude de la fiabilité des composants à ondes acoustiques de volume (BAW) pour des applications Radio Fréquence
Ben Hassine N.
Université Joseph-Fourier - Grenoble I (29/10/2009), Skandar Basrour (Dir.) [tel-00442862 - version 1]
fulltext access Réalisation de composants unipolaires en diamant pour l'électronique de puissance
Volpe P.-N.
Université Joseph-Fourier - Grenoble I (19/10/2009), Pierre Muret (Dir.) [tel-00436438 - version 1]
fulltext access Exploration de l'espace des architectures pour des systèmes de traitement d'image, analyse faite sur des blocs fondamentaux de la rétine numérique
Corvino R.
Université Joseph-Fourier - Grenoble I (2009-10-14), Jeanny Hérault (Dir.) [tel-00456577 - version 1]
fulltext access Propriétés électriques à l'échelle nanométrique des diélectriques dans les structures MIM et MOS
Sire C.
Université Joseph-Fourier - Grenoble I (18/09/2009), Thierry Baron (Dir.) [tel-00442919 - version 1]