Fiche détaillée

Articles dans des revues avec comité de lecture

IEEE Transactions on Electron Devices 56, 10 (2009) 2186-2192

Three-Dimensional Real-Space Simulation of Surface Roughness in Silicon Nanowire FETs

C. Buran1, M.G. Pala1, M. Bescond1, M. Dubois2, M. Mouis1

1 :	IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
2 :	TIMA - Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture

hal-00596081, version 1

http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00596081

oai:hal.archives-ouvertes.fr:hal-00596081

Contributeur : Chahla Domenget <>

Soumis le : Jeudi 26 Mai 2011, 14:39:25

Dernière modification le : Dimanche 10 Février 2013, 23:00:29