Fiche détaillée

Communications avec actes

Components for Military and Space Electronics Conference (CMSE'08), Sans Diego, CA : United States (2008)

Single-Event Upset and Soft Error Rate in Power ArchitectureTM microprocessors

D. Bellin1, R. Velazco2, P. Peronnard2, M. Pignol3, Ecoffet R.3, D. Alexandrescu2, D. Gauthier2

1 :	E2V - E2V Semiconductors
2 :	TIMA - Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture
3 :	CNES/Centre National d'Etudes Spatiales

Mots Clés : soft-error-rates

hal-00416554, version 1

http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00416554

oai:hal.archives-ouvertes.fr:hal-00416554

Contributeur : Lucie Torella <>

Soumis le : Lundi 14 Septembre 2009, 15:56:12

Dernière modification le : Lundi 14 Septembre 2009, 15:56:12