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IEEE-Transactions-on-Nuclear-Science Dec. ; 52(6) (2005) 2205-9

Single-event-upset-like fault injection: a comprehensive framework

F. Faure1, R. Velazco2, P. Peronnard2

An approach to reproduce radiation ground testing results for the study of microprocessors vulnerability to single event upset (SEU) is described in this paper. Resulting cross-sections fit very well with measured ones.

1 :	IST. DI ASTROFISICA SPAZIALE E FISICA COSMICA - CNR
2 :	TIMA - Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture

Mots Clés : radiation-ground-testing – microprocessors-vulnerability – single-event-upset – FPGA-based-fault-injection

hal-00022050, version 1

http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00022050

oai:hal.archives-ouvertes.fr:hal-00022050

Contributeur : Lucie Torella <>

Soumis le : Vendredi 31 Mars 2006, 15:11:05

Dernière modification le : Mardi 16 Décembre 2008, 16:15:25