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On-line Testing of Embedded Systems Using Optical Probes:system modeling and probing technology
Aktouf C. et al
Dans Proceedings of the Eighth 8th IEEE International On-Line Testing Workshop - Eighth 8th IEEE International On-Line Testing Workshop, France (2002) [hal-00194675 - version 1]
A practical approach for the diagnosis of a MIMD network
Aktouf C. et al
Dans Proceedings.-First-Asian-Test-Symposium-ATS-'92 - (1992) [hal-00008262 - version 1]