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11 documents classés par : Date Titre Nom du premier auteur Type de documents Date de dépôt

Analog/RF test ordering in the early stages of production testing Akkouche N. et al In Proc. of 30th IEEE VLSI Test Symposium - 30th IEEE VLSI Test Symposium, United States (2012) [hal-00745104 - version 1]

Optimisation du test de production de circuits analogiques et RF par des techniques de modélisation statistique Akkouche N. Université de Grenoble (2011-09-09), Salvaddor Mir (Dir.) [tel-00669605 - version 1]

Optimization of production test of analog and RF circuits using statistical modeling techniques Akkouche N. In Proc. of PhD Forum at IEEE Design, Automation and Test in Europe Conference - PhD Forum at IEEE Design, Automation and Test in Europe Conference, Grenoble, France (2011) [hal-00652920 - version 1]

Ordering of analog specification tests based on parametric defect level estimation Akkouche N. et al In Proc. of 28th IEEE VLSI Test Symposium (VTS) - 28th IEEE VLSI Test Symposium (VTS), United States (2010) [hal-00517680 - version 1]

Functional test compaction by statistical modelling of analogue circuits Akkouche N. et al Dans 13th IEEE International Mixed-Signals Testing Workhop (IMSTW'07) - 13th IEEE International Mixed-Signals Testing Workhop (IMSTW'07), France (2008) [hal-00522016 - version 1]

Réduction de tests fonctionnels en utilisant des techniques d'estimation non paramétrique Akkouche N. et al Dans 11ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'08) - 11ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'08), France (2008) [hal-00347974 - version 1]

Réduction de tests fonctionnels par modélisation statistique des circuits analogiques Akkouche N. et al Dans 10th Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'07) - 10th Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'07), France (2007) [hal-00521996 - version 1]

Réduction de tests fonctionnels par modélisation statistique des circuits analogiques Akkouche N. et al 10th Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'07), France (2007) [hal-00178816 - version 1]

Minimization of functional tests by statistical modelling of analogue circuits Akkouche N. et al Dans onference on Design and Technology of Integrated Systems (DTIS'07) - onference on Design and Technology of Integrated Systems (DTIS'07), Maroc (2007) [hal-00522012 - version 1]

Minimization of functional tests by statistical modelling of analogue circuits Akkouche N. et al In Proceedings of Conference on Design and Technology of Integrated Systems (DTIS'07) - Conference on Design and Technology of Integrated Systems (DTIS'07), Morocco (2007) [hal-00202091 - version 1]

Functional test compaction by statistical modelling of analogue circuits Akkouche N. et al Dans Proceedings of 13th IEEE International Mixed-Signals Testing Workhop (IMSTW'07) - 13th IEEE International Mixed-Signals Testing Workhop (IMSTW'07), Portugal (2007) [hal-00173951 - version 1]