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Analog/RF test ordering in the early stages of production testing
Akkouche N. et al
Dans Proc. of 30th IEEE VLSI Test Symposium - 30th IEEE VLSI Test Symposium, États-Unis (2012) [hal-00745104 - version 1]
fulltext access Optimisation du test de production de circuits analogiques et RF par des techniques de modélisation statistique
Akkouche N.
Université de Grenoble (09/09/2011), Salvaddor Mir (Dir.) [tel-00669605 - version 1]
Optimization of production test of analog and RF circuits using statistical modeling techniques
Akkouche N.
Dans Proc. of PhD Forum at IEEE Design, Automation and Test in Europe Conference - PhD Forum at IEEE Design, Automation and Test in Europe Conference, Grenoble, France (2011) [hal-00652920 - version 1]
Ordering of analog specification tests based on parametric defect level estimation
Akkouche N. et al
Dans Proc. of 28th IEEE VLSI Test Symposium (VTS) - 28th IEEE VLSI Test Symposium (VTS), États-Unis (2010) [hal-00517680 - version 1]
Functional test compaction by statistical modelling of analogue circuits
Akkouche N. et al
Dans 13th IEEE International Mixed-Signals Testing Workhop (IMSTW'07) - 13th IEEE International Mixed-Signals Testing Workhop (IMSTW'07), France (2008) [hal-00522016 - version 1]
Réduction de tests fonctionnels en utilisant des techniques d'estimation non paramétrique
Akkouche N. et al
Dans 11ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'08) - 11ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'08), France (2008) [hal-00347974 - version 1]
Réduction de tests fonctionnels par modélisation statistique des circuits analogiques
Akkouche N. et al
Dans 10th Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'07) - 10th Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'07), France (2007) [hal-00521996 - version 1]
Réduction de tests fonctionnels par modélisation statistique des circuits analogiques
Akkouche N. et al
10th Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'07), France (2007) [hal-00178816 - version 1]
Minimization of functional tests by statistical modelling of analogue circuits
Akkouche N. et al
Dans onference on Design and Technology of Integrated Systems (DTIS'07) - onference on Design and Technology of Integrated Systems (DTIS'07), Maroc (2007) [hal-00522012 - version 1]
Minimization of functional tests by statistical modelling of analogue circuits
Akkouche N. et al
Dans Proceedings of Conference on Design and Technology of Integrated Systems (DTIS'07) - Conference on Design and Technology of Integrated Systems (DTIS'07), Maroc (2007) [hal-00202091 - version 1]
Functional test compaction by statistical modelling of analogue circuits
Akkouche N. et al
Dans Proceedings of 13th IEEE International Mixed-Signals Testing Workhop (IMSTW'07) - 13th IEEE International Mixed-Signals Testing Workhop (IMSTW'07), Portugal (2007) [hal-00173951 - version 1]