279 articles – 2094 Notices  [english version]
.:. Consultation > Liste par auteurs > Bounceur .:.
56 documents classés par :
Première Page Page Précédente 1 - 2 - 3
A SNDR BIST for SigmaDelta Analogue-to-Digital Converters
Rolindez L. et al
VLSI Test Symposium, 2006. Proceedings. 24th IEEE, 30-04 April, États-Unis (2006) [hal-00079708 - version 1]
On-chip pseudorandom testing for linear and nonlinear MEMS
Dhayni A. et al
Dans VLSI-SoC 2005 - VLSI-SoC, Australie (2005) [hal-00522104 - version 1]
A digital bist for a 16-bit audio sigma-delta analogue-to-digital converter
Rolindez L. et al
Dans 11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW'05) - International Mixed-Signals Testing Workshop, France (2005) [hal-00522106 - version 1]
Nonlinearity effects on MEMS on-chip pseudorandum
Dhayni A. et al
Dans 11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW'05) - International Mixed-Signals Testing Workshop, France (2005) [hal-00522105 - version 1]
Nonlinearity effects on MEMS on-chip pseudorandum testing
Dhayni A. et al
Dans 11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW 05) - International Mixed-Signals Testing Workshop, France (2005) [hal-00522101 - version 1]
Génération de vecteurs de test pour les MEMS non linéaires pour le calcul des noyaux de Volterra
Bounceur A. et al
Dans 8ème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM'05) - Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, France (2005) [hal-00522100 - version 1]
Autotest Intégré des Microsystèmes Nonlinéaires
Dhayni A. et al
Dans 8ème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM'05) - Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, France (2005) [hal-00522099 - version 1]
Autotest Intégré des Microsystèmes Nonlinéaires
Dhayni A. et al
8ème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM'05), France (2005) [hal-00388324 - version 1]
Génération de vecteurs de test pour les MEMS non linéaires pour le calcul des noyaux de Volterra
Bounceur A. et al
8ème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM'05), France (2005) [hal-00388320 - version 1]
Nonlinearity effects on MEMS on-chip pseudorandum testing
Dhayni A. et al
Dans Proc. of 11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW'’05) - 11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW’05), France (2005) [hal-00384648 - version 1]
On-chip pseudorandom testing for linear and nonlinear MEMS
Dhayni A. et al
Dans Proc. IFIP International Conference on Very Larage Scale Integration (VLSI-SoC?05), Perth, Western Australia, October - (2005) [hal-00134430 - version 1]
On-chip pseudorandom testing for linear and nonlinear MEMS
Dhayni A. et al
Dans Proc. IFIP International Conference on Very Larage Scale Integration (VLSI-SoC?05), Perth, Western Australia, October - (2005) [hal-00130870 - version 1]
Nonlinearity effects on MEMS on-chip pseudorandum
Dhayni A. et al
11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW'05), June 27-29, France (2005) [hal-00096851 - version 1]
A digital bist for a 16-bit audio sigma-delta analogue-to-digital converter
Rolindez L. et al
11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW'05), June 27-29, France (2005) [hal-00096847 - version 1]
A 0.18 mu m CMOS implementation of on-chip analogue test signal generation from digital test patterns
Rolindez L. et al
Dans Proceedings.-Design,-Automation-and-Test-in-Europe-Conference-and-Exhibition - Design,-Automation-and-Test-in-Europe, France (2004) [hal-00522108 - version 1]
A 0.18 mu m CMOS implementation of on-chip analogue test signal generation from digital test patterns
Rolindez L. et al
Dans Proceedings.-Design,-Automation-and-Test-in-Europe-Conference-and-Exhibition - Proceedings.-Design,-Automation-and-Test-in-Europe-Conference-and-Exhibition, France (2004) [hal-00012860 - version 1]