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A SNDR BIST for SigmaDelta Analogue-to-Digital Converters Rolindez L. et al VLSI Test Symposium, 2006. Proceedings. 24th IEEE, 30-04 April, États-Unis (2006) [hal-00079708 - version 1]

On-chip pseudorandom testing for linear and nonlinear MEMS Dhayni A. et al In VLSI-SoC 2005 - VLSI-SoC, Australia (2005) [hal-00522104 - version 1]

A digital bist for a 16-bit audio sigma-delta analogue-to-digital converter Rolindez L. et al Dans 11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW'05) - International Mixed-Signals Testing Workshop, France (2005) [hal-00522106 - version 1]

Nonlinearity effects on MEMS on-chip pseudorandum Dhayni A. et al Dans 11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW'05) - International Mixed-Signals Testing Workshop, France (2005) [hal-00522105 - version 1]

Nonlinearity effects on MEMS on-chip pseudorandum testing Dhayni A. et al Dans 11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW 05) - International Mixed-Signals Testing Workshop, France (2005) [hal-00522101 - version 1]

Génération de vecteurs de test pour les MEMS non linéaires pour le calcul des noyaux de Volterra Bounceur A. et al Dans 8ème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM'05) - Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, France (2005) [hal-00522100 - version 1]

Autotest Intégré des Microsystèmes Nonlinéaires Dhayni A. et al Dans 8ème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM'05) - Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, France (2005) [hal-00522099 - version 1]

Autotest Intégré des Microsystèmes Nonlinéaires Dhayni A. et al 8ème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM'05), France (2005) [hal-00388324 - version 1]

Génération de vecteurs de test pour les MEMS non linéaires pour le calcul des noyaux de Volterra Bounceur A. et al 8ème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM'05), France (2005) [hal-00388320 - version 1]

Nonlinearity effects on MEMS on-chip pseudorandum testing Dhayni A. et al Dans Proc. of 11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW'’05) - 11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW’05), France (2005) [hal-00384648 - version 1]

On-chip pseudorandom testing for linear and nonlinear MEMS Dhayni A. et al Dans Proc. IFIP International Conference on Very Larage Scale Integration (VLSI-SoC?05), Perth, Western Australia, October - (2005) [hal-00134430 - version 1]

On-chip pseudorandom testing for linear and nonlinear MEMS Dhayni A. et al Dans Proc. IFIP International Conference on Very Larage Scale Integration (VLSI-SoC?05), Perth, Western Australia, October - (2005) [hal-00130870 - version 1]

Nonlinearity effects on MEMS on-chip pseudorandum Dhayni A. et al 11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW'05), June 27-29, France (2005) [hal-00096851 - version 1]

A digital bist for a 16-bit audio sigma-delta analogue-to-digital converter Rolindez L. et al 11th Annual International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW'05), June 27-29, France (2005) [hal-00096847 - version 1]

A 0.18 mu m CMOS implementation of on-chip analogue test signal generation from digital test patterns Rolindez L. et al In Proceedings.-Design,-Automation-and-Test-in-Europe-Conference-and-Exhibition - Design,-Automation-and-Test-in-Europe, France (2004) [hal-00522108 - version 1]

A 0.18 mu m CMOS implementation of on-chip analogue test signal generation from digital test patterns Rolindez L. et al Dans Proceedings.-Design,-Automation-and-Test-in-Europe-Conference-and-Exhibition - Proceedings.-Design,-Automation-and-Test-in-Europe-Conference-and-Exhibition, France (2004) [hal-00012860 - version 1]