248 articles – 2008 Notices  [english version]
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La CAO des microsystèmes
Charlot B. et al
In Conception de microsystèmes sur silicium (2002) 129-176 : chapitre 5 [hal-00016250 - version 1]
Modeling and design of asynchronous priority arbiters for on-chip
Rigaud J.B. et al
In SOC Design Methodologies Series: IFIP International Federation for Information Processing (2002) 313-324 [hal-00016196 - version 1]
La conception physique : placement, routage et vérification du layout
Torki K.
In Conception logique et physique des systèmes monopuces (Traité EGEM Série électronique et micro-électronique) (2002) chapitre 3 : 65-106 [hal-00016182 - version 1]
La conception de systèmes asynchrones
Renaudin M.
In Conception logique et physique des systèmes monopuces (Traité EGEM Série électronique et micro-électronique) (2002) chapitre 5 : 143-220 [hal-00016172 - version 1]
La conception logique
Renaudin M.
In Conception logique et physique des systèmes monopuces (2002) 27-64 ; chapitre 2 [hal-00016171 - version 1]
La conception système et le découpage logiciel/matériel
Rousseau F.
In Conception de haut niveau des systèmes monopuces (Traité EGEM, Série électronique et micro-électronique) (2002) chapitre 4: 109-138 [hal-00016165 - version 1]
Spécification et conception des systèmes hétérogènes
Hessel F. et al
In Conception de haut niveau des systèmes monopuces (2002) 175-200 ; chapitre 6 [hal-00016163 - version 1]
La conception comportementale
Cesario W. et al
In Conception de haut niveau des systèmes monopuces (Traité EGEM, Série électronique et micro-électronique) (2002) 65-108 ; chapitre 3 [hal-00016154 - version 1]
La simulation et les méthodes de vérification formelle
Borrione D.
In Conception de haut niveau des systèmes monopuces (Traité EGEM, Série électronique et micro-électronique) (2002) chapitre 5: 139-174 [hal-00016153 - version 1]
Using concurrent and semi-concurrent on-line testing during HLS: an adaptable approach
Naal M.A. et al
In Proceedings-of-the-Eighth-IEEE-International-On-Line-Testing-Workshop-IOLTW-2002 - Proceedings-of-the-Eighth-IEEE-International-On-Line-Testing-Workshop-IOLTW-2002, France (2002) [hal-00015843 - version 1]
Automatic modifications of high level VHDL descriptions for fault detection or tolerance
Leveugle R.
Dans Proceedings-2002-Design,-Automation-and-Test-in-Europe-Conference-and-Exhibition. 2002: - Proceedings-2002-Design,-Automation-and-Test-in-Europe-Conference-and-Exhibition. 2002:, France (2002) [hal-00015045 - version 1]
Multi-level fault injection experiments based on VHDL descriptions: a case study
Leveugle R. et al
Dans Proceedings-of-the-Eighth-IEEE-International-On-Line-Testing-Workshop-IOLTW-2002 - Proceedings-of-the-Eighth-IEEE-International-On-Line-Testing-Workshop-IOLTW-2002, France (2002) [hal-00015043 - version 1]
Using run-time reconfiguration for fault injection in hardware prototypes
ANTONI L. et al
Dans Proceedings-17th-IEEE-International-Symposium-on-Defect-and-Fault-Tolerance-in-VLSI-Systems.-DFT-2002 - Proceedings-17th-IEEE-International-Symposium-on-Defect-and-Fault-Tolerance-in-VLSI-Systems.-DFT-2002, Canada (2002) [hal-00015042 - version 1]
Embedded robustness IPs for transient-error-free ICs
Dupont E. et al
IEEE-Design-&-Test-of-Computers May-June ; 19(3) (2002) 56-70 [hal-00013743 - version 1]
IP for embedded robustness
Nicolaidis M.
Dans Proceedings-2002-Design,-Automation-and-Test-in-Europe-Conference-and-Exhibition - Proceedings-2002-Design,-Automation-and-Test-in-Europe-Conference-and-Exhibition, France (2002) [hal-00013741 - version 1]
Embedded robustness IPs
Dupont E. et al
Dans Proceedings-2002-Design,-Automation-and-Test-in-Europe-Conference-and-Exhibition - Proceedings-2002-Design,-Automation-and-Test-in-Europe-Conference-and-Exhibition, France (2002) [hal-00013740 - version 1]
Robustness IPs for reliability and security of SoCs
Dupont E. et al
Dans Proceedings-International-Test-Conference-2002-Cat.-No.02CH37382 - Proceedings-International-Test-Conference-2002-Cat.-No.02CH37382, France (2002) [hal-00013739 - version 1]
New methods for evaluating the impact of single event transients in VDSM ICs
Alexandrescu D. et al
Dans Proceedings-17th-IEEE-International-Symposium-on-Defect-and-Fault-Tolerance-in-VLSI-Systems.-DFT-2002 - Proceedings-17th-IEEE-International-Symposium-on-Defect-and-Fault-Tolerance-in-VLSI-Systems.-DFT-2002, Canada (2002) [hal-00013736 - version 1]
Behavioural modelling and simulation of a MEMS-based ultrasonic pulse-echo system
Rufer L. et al
Dans Proceedings-of-the-SPIE-The-International-Society-for-Optical-Engineering - Design, Test, Integration, and Packaging of MEMS/MOEMS 2002, France (2002) [hal-00012877 - version 1]
Dispositifs et physique des microsystèmes sur silicium (Traité EGEM, série Electronique et micro-électronique)
Mir S.
(2002) 218p. 16x24 [hal-00012734 - version 1]