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Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG (17/11/1989), Raoul Velazco (Dir.)
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Test aux ions lourds de VLSI programmables
A. Provost-Grellier1, 2

L'environnement radiatif spatial provoque des anomalies dans les systèmes informatiques embarques. Il est donc primordial de définir des stratégies de qualification permettant le choix du circuit le moins vulnérable. Le phénomène dit d'Upset est l'un des effets du rayonnement le plus critique pour les circuits intégrés. Les différentes stratégies de test d'Upset sont passées en revue, dans le cas des circuits intégrés programmables. Un équipement expérimental de test a été développé et une methode de test a été appliquée a des circuits candidats a des applications spatiales. Les tests aux ions lourds ont été réalisés a l'aide de différents simulateurs d'ions lourds (source de californium, cyclotron, synchrotron), validant ainsi le matériel et l'approche développes et donnant des indications sur l'efficacité de ces simulations
1:  TIMA - Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture
2:  IMAG - Institut d'Informatique et de Mathématiques Appliquées de Grenoble
environnement spatial – ions lourds – Upset – test d'upset – circuits intégrés programmables

Heavy ion test of programmable VLSI
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