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Detailed view Habilitation à diriger des recherches
Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG (12/06/1981), Louis Bolliet (Pr.)
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Test et LSI
Beranrd Courtois1, 2

La motivation de ce travail est la détection des pannes matérielles pouvant se produire à l'intérieur d'une unité centrale (UC) intégrée (microprocesseur). Certaines des différentes étapes de la méthodologie dépassant ce cadre (pouvant être utilisées avec profit pour d'autres problèmes de test que celui du test d'une UC) mais étant tournées vers des problèmes de tests, le caractère intégré étant une constante des circuits étudiés, le titre de ce document situe ledit travail dans un cadre plus vaste, brièvement résumé par : Test et LSI
1:  TIMA - Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture
2:  IMAG - Institut d'Informatique et de Mathématiques Appliquées de Grenoble
LSI – test – conception circuits intégrés – microprocesseur

Test and LSI
Fault simulation
LSI – test – design