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Habilitation à diriger des recherches

Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG (12/06/1981), Louis Bolliet (Pr.)

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Test et LSI

Beranrd Courtois1, 2

La motivation de ce travail est la détection des pannes matérielles pouvant se produire à l'intérieur d'une unité centrale (UC) intégrée (microprocesseur). Certaines des différentes étapes de la méthodologie dépassant ce cadre (pouvant être utilisées avec profit pour d'autres problèmes de test que celui du test d'une UC) mais étant tournées vers des problèmes de tests, le caractère intégré étant une constante des circuits étudiés, le titre de ce document situe ledit travail dans un cadre plus vaste, brièvement résumé par : Test et LSI

1:	TIMA - Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture
2:	IMAG - Institut d'Informatique et de Mathématiques Appliquées de Grenoble

keyword(s) : LSI – test – conception circuits intégrés – microprocesseur

Test and LSI

Fault simulation

english keyword(s) : LSI – test – design

tel-00010674, version 1

http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00010674

oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00010674

From: Thèses Imag <>

Submitted on: Tuesday, 18 October 2005 15:51:09

Updated on: Thursday, 10 July 2008 17:06:49