279 articles – 2093 references  [version française]
.:. Browse > Document list .:.
2372 documents ordered by :
First Previous 1 - 2 - 3 - 4 - 5 - 6 - 7 ... Next Last
True Random Numbers Generation Using Asynchronous Circuits
Cherkaoui A. et al
Journées scientifiques SEmba 2013, France (2013) [ujm-00840445 - version 1]
fulltext access A Self-timed Ring Based True Random Number Generator
Cherkaoui A. et al
In proceedings of ASYNC 2013 (International symposium on advanced research in asynchronous circuits and systems) - International symposium on advanced research in asynchronous circuits and systems - ASYNC 2013, United States (2013) [ujm-00840593 - version 1]
Very low frequency piezoelectric energy harvester designed for heart beat vibration scavenging
Colin M. et al
3èmes Journées Nationales sur la Récupération et le Stockage d'Energie pour l'Alimentation des Microsystèmes Autonomes (JNRSE'2013), France (2013) [hal-00964968 - version 1]
fulltext access Multivariate Statistical Techniques for Analog Parametric Test Metrics Estimation
Huang K. et al
In DTIS 2013 - DTIS 2013, United Arab Emirates (2013) [hal-00780022 - version 1]
Parametric test metrics estimation using statistical modelling
Beznia K. et al
In IEEE International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in nanoscale era (DTIS'13) - IEEE International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in nanoscale era (DTIS'13), France (2013) [hal-00765157 - version 1]
fulltext access Single glucose biofuel cells implanted in rats power electronic devices.
Zebda A. et al
Sci Rep 3 (2013) 1516 [hal-00809303 - version 1]
Data Mining MPSoC Simulation Traces to Identify Concurrent Memory Access Patterns
Lagraa S. et al
Dans Proceedings of the Conference on Design, Automation and Test in Europe (DATE) - DATE 2013 - Conference on Design, Automation and Test in Europe, France (2013) [hal-00817027 - version 1]
fulltext access A New Recovery Scheme Against Short-to-Long Duration Transient Faults in Combinational Logic
Possamai Bastos R. et al
Journal of Electronic Testing: Theory and Application (2013) 001-010 [lirmm-00838389 - version 1]
fulltext access Optimisation des Performances de Réseaux de Capteurs Dynamiques par le Contrôle de Synchronisation dans les Systems Ultra Large Bande
Alhakim R.
Université de Grenoble (29/01/2013), Emmanuel SIMEU (Dir.) [tel-00838742 - version 1]
fulltext access Microcapteurs de hautes fréquences pour des mesures en aéroacoustique
Zhou Z.
Université de Grenoble (21/01/2013), Libor Rufer (Dir.) [tel-00947304 - version 1]
STAR - Dépôt national des thèses électroniques
fulltext access Microcapteur de hautes fréquences pour des mesures en aéroacoustique
Zhou Z. J.
Université de Grenoble (21/01/2013), Libor RUFER (Dir.) [tel-00838736 - version 1]
Modular Modelling for the Diagnostic of Complex Discrete-Event Systems
Eric G. et al
IEEE Transactions on Automation Science and Engineering 9, 4 (2013) 1100-1125 [hal-00787538 - version 1]
fulltext access Développement d'architectures HW/SW tolérantes aux fautes et auto-calibrantes pour les technologies Intégrées 3D
Pasca V.
Université de Grenoble (11/01/2013), Lorena Anghel (Dir.) [tel-00838677 - version 2]
STAR - Dépôt national des thèses électroniques
Reduced code linearity testing of pipeline adcs in the presence of noise
Laraba A. et al
Dans IEEE VLSI Test Symposium (VTS'13) - IEEE VLSI Test Symposium (VTS'13), Berkeley, CA, USA, April 29 - May 02, États-Unis (2013) [hal-00975951 - version 1]
Defect-Oriented Non-Intrusive RF Test Using On-Chip Temperature Sensors
Abdallah L. et al
Dans IEEE VLSI Test Symposium (VTS'13) - IEEE VLSI Test Symposium (VTS'13), , USA, April 29 - May 02, États-Unis (2013) [hal-00975942 - version 1]
Multidimensional analog test metrics estimation using extreme value theory and statistical blockade
Mohamed F. et al
Dans 50th ACM / EDAC / IEEE Design Automation Conference (DAC) - 50th ACM / EDAC / IEEE Design Automation Conference (DAC), États-Unis (2013) [hal-00975424 - version 1]
Fault modeling and diagnosis for nanometric analog circuits
Huang K. et al
Dans IEEE International Test Conference (ITC'13) - IEEE International Test Conference (ITC'13), États-Unis (2013) [hal-00975410 - version 1]
True Non-Intrusive Sensors for RF Built-In Test
Abdallah L. et al
Dans IEEE International Test Conference (ITC'13) - IEEE International Test Conference (ITC'13), États-Unis (2013) [hal-00975407 - version 1]
Optimization of a self-converging algorithm at assembly level to improve SEU Fault-Tolerance
Marques C.A. et al
Dans 4th Latin American Symposium on Circuits And Systems (LASCAS) - 4th Latin American Symposium on Circuits And Systems (LASCAS), Pérou (2013) [hal-00973535 - version 1]
Error-rate prediction for programmable circuits: methodology, tools and studied cases
Velazco R.
Dans SPIE Micro- and Nanotechnology Sensors, Systems, and Applications - SPIE Micro- and Nanotechnology Sensors, Systems, and Applications, États-Unis (2013) [hal-00973527 - version 1]