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Defect-Oriented Non-Intrusive RF Test Using On-Chip Temperature Sensors
Abdallah L. et al
Dans IEEE VLSI Test Symposium (VTS'13) - IEEE VLSI Test Symposium (VTS'13), , USA, April 29 - May 02, États-Unis (2013) [hal-00975942 - version 1]
True Non-Intrusive Sensors for RF Built-In Test
Abdallah L. et al
Dans IEEE International Test Conference (ITC'13) - IEEE International Test Conference (ITC'13), États-Unis (2013) [hal-00975407 - version 1]
Multivariate Statistical Techniques for Analog Parametric Test Metrics Estimation
Huang K. et al
In 8th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), Abu Dhabi, UAE, March 26-28 - 8th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), Abu Dhabi, UAE, March 26-28, United Arab Emirates (2013) [hal-00842238 - version 1]
Experiences with non-intrusive sensors for RF built-in test
Abdallah L. et al
In Proc. of IEEE International Test Conference (ITC) - IEEE International Test Conference (ITC), United States (2012) [hal-00815233 - version 1]
Adaptive logical control of RF LNA performances for efficient energy consumption
Khereddine R. et al
Dans VLSI-SoC: Forward-Looking Trends in IC and Systems Design (2012) 43-68, Volume 373 [hal-00750174 - version 1]
Testing RF Circuits With True Non-Intrusive Built-In Sensors
Abdallah L. et al
Dans Proc. of Design, Automation and Test in Europe (DATE'12) - Design, Automation and Test in Europe (DATE'12), Allemagne (2012) [hal-00688270 - version 1]
On Replacing an RF Test with an Alternative Measurement: Theory and a Case Study
Spyronasios A. et al
Dans Proc. of IEEE Asian Test Symposium (ATS'11) - IEEE Asian Test Symposium (ATS'11), Inde (2011) [hal-00672554 - version 1]
RF Front-End Test Using Built-in Sensors
Abdallah L. et al
IEEE Design and Test of Computers 28, 6 (2011) 76-84 [hal-00672386 - version 1]
Conception et évaluation d'une technique de test pour un mélangeur RF
Abdallah L. et al
In Journées GDR SoC-SiP - Journées GDR SoC-SiP, France (2011) [hal-00653411 - version 1]
Moniteurs embarqués pour le test à bas coût d'un front-end RF
Abdallah L. et al
In Proc. of 14èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'11) - 14ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'11), France (2011) [hal-00652938 - version 1]
Implicit Test of High-Speed Analog Circuits Using Non-Intrusive Sensors
Abdallah L. et al
IEEE European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD'11), Suède (2011) [hal-00625038 - version 1]
Sensors for built-in alternate RF test
Abdallah L. et al
Dans Proc. of IEEE European Test Symposium (ETS'10) - IEEE European Test Symposium (ETS'10), Tchèque, République (2010) [hal-00558886 - version 1]
Evaluation of built-in sensors for RF LNA response measurement
Tongbong J. et al
Dans Proc. of 16th IEEE International Mixed-signals, Sensors and Systems Test Workshop (IMS3TW) - 16th IEEE International Mixed-signals, Sensors and Systems Test Workshop (IMS3TW), France (2010) [hal-00557003 - version 1]
Adaptive Logical Control of RF LNA performances for efficient energy consumption
Khereddine R. et al
Dans Proc. of 18th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) - 18th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), Madrid, September 27-29, France (2010) [hal-00556928 - version 1]
Capteurs embarqués pour le test alternatif des circuits RF
Abdallah L. et al
Dans Journées GDR SoC-SiP 2010 - Journées GDR SoC-SiP, France (2010) [hal-00550011 - version 1]
Alternate LNA testing using an envelope detector
Abdallah L. et al
Journées GDR SoC-SiP, France (2009) [hal-00471566 - version 1]