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Low-Cost Highly-Robust Hardened Storage Cells Using Blocking Feedback Transistors Nicolaidis M. et al Dans Proc. of VLSI Test Symposium (VTS'08) - IEEE VLSI Test Symposium (VTS'08), États-Unis (2008) [hal-00378128 - version 1]

Measuring the width of transient pulses induced by ionising radiation Nicolaidis M. et al Dans 2003-IEEE-International-Reliability-Physics-Symposium-Proceedings-41st-Annual-Cat.-No.03CH37400 - 2003-IEEE-International-Reliability-Physics-Symposium-Proceedings-41st-Annual-Cat.-No.03CH37400, États-Unis (2003) [hal-00013733 - version 1]

Etude et conception de microsystèmes micro-usinés par la face avant en utilisant des technologies standards des circuits intégrés sur arséniure de gallium Perez Ribas R. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG (30/10/1998), COURTOIS Bernard (Dir.) [tel-00002987 - version 1]