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IEEE-Transactions-on-Nuclear-Science Volume: 50 , Issue: 6 , Part 1 (2003) 2101 - 2106

Impact of data cache memory on the single event upset-induced error rate of microprocessors

F. Faure1, R. Velazco2, M. Violante2, M. Rebaudengo2, M.S. Reorda2

Cache memories embedded in most of complex processors significantly contribute to the global single event upset-induced error rate. Three different approaches allowing the study of this contribution by fault injection are investigated in this paper.

1 :	IST. DI ASTROFISICA SPAZIALE E FISICA COSMICA - CNR
2 :	TIMA - Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture

Mots Clés : data-cache-memory – single-event-upset-induced-error-rate – microprocessors-

hal-00008188, version 1

http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00008188

oai:hal.archives-ouvertes.fr:hal-00008188

Contributeur : Lucie Torella <>

Soumis le : Mercredi 24 Août 2005, 15:33:11

Dernière modification le : Mercredi 24 Août 2005, 15:33:11