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IEEE Transactions on Electron Devices 56, 10 (2009) 2186-2192
Three-Dimensional Real-Space Simulation of Surface Roughness in Silicon Nanowire FETs
C. Buran1, M.G. Pala1, M. Bescond1, M. Dubois2, M. Mouis1
1:  IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
2:  TIMA - Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture