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fulltext access Analyse multi-physique des sources de défiabilisation du microcontact ohmique dans les interrupteurs MEMS
Broué A.
Université Paul Sabatier - Toulouse III (19/06/2012), R.PLANA (Dir.) [tel-00862813 - version 1]
fulltext access Approche de modélisation distribuée appliquée aux composants semi-conducteurs bipolaires de puissance en VHDL-AMS. Application à la diode PIN de puissance et à l'IGBT
Hneine A.
Université Paul Sabatier - Toulouse III (12/06/2012), P.AUSTIN (Dir.) [tel-00735553 - version 1]
fulltext access Contribution à l'intégration d'un indicateur de vieillissement lié à l'état mécanique de composants électroniques de puissance
Marcault E.
INSA de Toulouse (25/05/2012), J.M.DORKEL (Dir.) [tel-00728764 - version 1]
fulltext access Structures MOS-IGBT sur technologie SOI en vue de l'amélioration des performances à haute température de composants de puissance et de protections ESD
Arbess H.
Université Paul Sabatier - Toulouse III (22/05/2012), M.BAFLEUR (Dir.) [tel-00715137 - version 1]
fulltext access Reasoning about models: detecting and isolating abnormalities in diagnostic systems
Belard N.
Université Paul Sabatier - Toulouse III (21/05/2012), M.COMBACAU (Dir.) [tel-00719547 - version 1]
fulltext access Capteurs sans fils passifs à transduction électromagnétique : A la frontière entre le monde des capteurs et les MEMS RF
Pons P.
Institut National Polytechnique de Toulouse - INPT (16/03/2012), C.PELLET (Pr.) [tel-00807347 - version 1]
fulltext access Étude transitoire du déclenchement de protections haute tension contre les décharges électrostatiques
Delmas A.
Université Paul Sabatier - Toulouse III (27/02/2012), N.NOLHIER (Dir.) [tel-00720123 - version 1]
fulltext access Développement de procédés micro et nano fluidiques pour la manipulation de micro et nano objets et biomolécules
He Q.
Université Paul Sabatier - Toulouse III (27/01/2012), A.BANCAUD (Dir.) [tel-00685834 - version 1]
fulltext access Navigation référencée multi-capteurs d'un robot mobile en environnement encombré
Durand Petiteville A.
Université Paul Sabatier - Toulouse III (20/01/2012), V.CADENAT (Dir.) [tel-00694329 - version 1]
fulltext access Fiabilité des dispositifs HEMT en technologie GaN
Astre G.
Université Paul Sabatier - Toulouse III (17/01/2012), J.G.TARTARIN (Dir.) [tel-00767154 - version 1]