Génération de test fonctionnel de circuits digitaux décrits avec un langage déclaratif : Lustre

Mazen Al Mahrous

Thèse Année : 1990

Functional test generation of digital circuits described using the data-flow language : Lustre

Génération de test fonctionnel de circuits digitaux décrits avec un langage déclaratif : Lustre

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Mazen Al Mahrous

Fonction : Auteur

Institut d'Informatique et de Mathématiques Appliquées de Grenoble

Mots clés

test fonctionnel langages de description de matériel langage déclaratif testabilité:écoulement test par identification d'automates

Domaines

Modélisation et simulation

Fichier principal

Al-Mahrous.Mazen_1990_these.pdf (15.18 Mo)

Thèses Imag : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://theses.hal.science/tel-00337894

Soumis le : lundi 10 novembre 2008-10:12:31

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:36:42

Archivage à long terme le : lundi 7 juin 2010-21:13:21

Dates et versions

tel-00337894 , version 1 (10-11-2008)

Identifiants

HAL Id : tel-00337894 , version 1

Citer

Mazen Al Mahrous. Génération de test fonctionnel de circuits digitaux décrits avec un langage déclaratif : Lustre. Modélisation et simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1990. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-00337894⟩

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