Thèse
Année : 1981
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https://theses.hal.science/tel-00297307
Soumis le : mardi 15 juillet 2008-17:34:11
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:23:21
Archivage à long terme le : samedi 29 mai 2010-00:41:22
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : tel-00297307 , version 1
Citer
José-Maria Gobbi. Test et autotest de circuits complexes. Modélisation et simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1981. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-00297307⟩
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