Design of a programmable analog and mixed-signal BIST architecture in deep submicron technology
Conception d'une architecture de BIST analogique et mixte programmable en technologie CMOS très submicronique
Résumé
This report presents a BIST technique for harmonic testing of Analogue and Mixed-Signal (AMS) circuits. The interface of the BIST is fully digital. This approach is aimed at facilitating low-cost test techniques for System-on-Chip (SoC) devices, rendering the test of mixed-signal cores compatible with the use of a low-cost digital tester. Analogue test signal generation is performed on-chip by low pass filtering a Sigma-Delta encoded bit-stream. Analogue harmonic test response analysis is also performed on-chip using square wave modulation and Sigma-Delta modulation. Since both analogue signal generation and test response analysis are digitally programmable on-chip, compatibility with a low-cost digital tester is ensured. Optimisation of test signatures is discussed in detail as a trade-off between test time and test quality.
Ce mémoire présente une technique de BIST dont l'interface est totalement numérique, pour le test fréquentiel de circuits analogiques et mixtes. L'objectif de cette approche est de faciliter les techniques de test à bas coût des Systèmes sur Puce, rendant le test des blocs mixtes compatibles avec l'utilisation de testeurs numériques. La génération de signal de test analogique est réalisée sur la puce elle-même par un filtrage passe-bas d'un train binaire encodé par un modulateur Sigma-Delta. L'analyse harmonique de la réponse analogique est également réalisée sur la puce en utilisant une modulation par un signal carré et une modulation par un modulateur Sigma-Delta. La génération de signal analogique et l'analyse de la réponse de test étant programmables numériquement sur la puce, la compatibilité avec un testeur numérique à faible coût est assurée. L'optimisation des signatures de test est discutée en détail pour trouver un compromis entre temps et qualité du test.