Test and LSI

Test et LSI

Bernard Courtois (1, 2)

1 TIMA - Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés
2 IMAG - Institut d'Informatique et de Mathématiques Appliquées de Grenoble

La motivation de ce travail est la détection des pannes matérielles pouvant se produire à l'intérieur d'une unité centrale (UC) intégrée (microprocesseur). Certaines des différentes étapes de la méthodologie dépassant ce cadre (pouvant être utilisées avec profit pour d'autres problèmes de test que celui du test d'une UC) mais étant tournées vers des problèmes de tests, le caractère intégré étant une constante des circuits étudiés, le titre de ce document situe ledit travail dans un cadre plus vaste, brièvement résumé par : Test et LSI

Mots clés: design; LSI; integrated circuit design; microprocessor

Mots clés: design; LSI; test; conception circuits intégrés; microprocesseur

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Bernard Courtois. Test et LSI. Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1981. ⟨tel-00010674⟩