Loading...
Bienvenue dans la collection HAL du groupe DSF : Diélectriques Solides et Fiabilité
Les activités de l’équipe concernent en premier lieu la fiabilité des systèmes isolés. Les travaux ont pour objectif la compréhension des mécanismes de génération et de transport de charges dans les isolants, ainsi que l’identification des processus conduisant au vieillissement et à la rupture de matériaux compte tenu des contraintes fonctionnelles rencontrées dans les dispositifs. Pour cela, des techniques de caractérisation originales sont mises en œuvre et l’on s’appuie sur une simulation numérique des phénomènes de transport. Pour plus d'informations sur nos recherches.
Types de documents publiés
Sujets
Dielectrics
Electrical ageing
Accumulation characteristics
LDPE
Dielectric material
Electrical conductivity
Nanostructured dielectrics
Cathodoluminescence
Permittivity
Electroluminescence
Charge d'espace
Electrical properties
Thermal aging
Polarization
LIMM
Dielectric films
Dielectric materials
Charge measurement
Polarity reversal
Electric field distribution
KPFM
Electrodes
Electrical engineering
DC conductivity
AFM
Rotating machines
Polymers
FLIMM
Breakdown
Proteins
Space charge
Mechanical properties
Cumyl alcohol
Conductivity
Partial discharges
HVDC cable
SiO2
Silver nanoparticles
Dielectric
Fluid model
Conduction current
E-Beam
Epoxy resin
PTFE
Electrostatics
Insulating polymers
Electron-beam irradiation
XLPE
PEA
EFM
Modeling
Plasma processes
Charge transport
Plasma process
DC stress
Bipolar charge transport model
Electromechanical stress
Silver
Ac electric field
Polyethylene
Cross-linked polyethylene
Insulation
Thin films
C-AFM
FTIR
Cable
Radiation effects
AgNPs
Acoustic wave propagation
Electron emission
Polypropylene
Dielectric charging
Ageing
Luminescence
Interfacial charge
Transport
Cross-linking by-products
Charge injection
HVDC
Power cables
Dielectric strength
Aluminum oxide
Charge trapping
Charge transport model
Electron beams
Current measurement
Pulsed electro acoustic method
Polyimide
Electrical insulation
Silicon compounds
Electron beam
Atomic force microscopy
Dielectric properties
Electric field
Field distribution
Polymeric insulation
Optimization
Polymer
Electric potential
Electronic irradiation